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掃描電鏡拍攝技巧|如何避免掃描電鏡觀察過程中碳沉積現(xiàn)象在使用掃描電鏡進(jìn)行樣品觀察時(shí)，尤其是采用二次電子模式，隨著觀察時(shí)間的延長(zhǎng)，在觀察的區(qū)域會(huì)出現(xiàn)一塊黑的矩形的區(qū)域。如下圖所示，對(duì)一塊空白的鋁制樣品臺(tái)進(jìn)行觀察時(shí)，一段時(shí)間后降低放大倍數(shù)，發(fā)現(xiàn)...

設(shè)備更新｜掃描電鏡SEM&透射電鏡TEM離子束制樣設(shè)備2024年3月1日，《推動(dòng)大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新行動(dòng)方案》經(jīng)審議通過。會(huì)議指出，推動(dòng)新一輪大規(guī)模設(shè)備更新和消費(fèi)品以舊換新，是著眼于我國(guó)高質(zhì)量發(fā)展大局作出的重大決策。同時(shí)指出，新一...

掃描電鏡制樣：保證掃描電鏡樣品清潔有多重要？掃描電鏡（SEM）主要用于微觀形貌分析，其測(cè)試結(jié)果的好壞，一方面是由儀器的性能、測(cè)試條件和操作人員水平?jīng)Q定，另一方面還與樣品制備過程有關(guān)。掃描電鏡（SEM）樣品需要保持清潔、無污染物，盡量把污染程...

在上篇文章中，我們介紹了原子層沉積（ALD）方法包覆電極材料的必要性以及粉末涂層（PC）和極片涂層（DC）兩種不同的改性策略。（詳見：原子層沉積（ALD）技術(shù)在鋰電材料中的應(yīng)用（一）：電極粉末包覆的必要性（上））ALD方法對(duì)于電極材料的改善...

引言使用FIB切削獲得超薄樣片(lamella)，是一種常見的塊體材料TEM制樣方法。然而，鎵離子束輻照損傷所帶來的非晶層卻像一片難以驅(qū)散的迷霧，阻礙著人們獲得更高質(zhì)量的TEM照片，進(jìn)而也限制了對(duì)輕元素的量化分析?？梢赃x擇離子精修儀對(duì)FIB...

納米印刷沉積：助力納米技術(shù)發(fā)展，引發(fā)納米能源領(lǐng)域革命性變革絕緣、傳導(dǎo)、反射、保溫、耐磨和防銹等材料及其特性在日常生活中發(fā)揮著重要作用，科學(xué)家們正在不斷努力改善材料的特性以制造出具備更優(yōu)性能的產(chǎn)品。更好的隔熱效果可以降低供暖成本；更好的傳導(dǎo)導(dǎo)...

應(yīng)用分享：DENS原位透射電鏡熱電樣品桿助力固態(tài)氧化物燃料電池研究通過在環(huán)境透射電鏡中使用DENSLightning原位熱電樣品桿，新加坡南洋理工大學(xué)的MartialDuchamp博士和他的合作者以原子級(jí)分辨率觀察了固態(tài)氧化物燃料電池的工作...

為什么使用原子層沉積（ALD）方法對(duì)電極材料進(jìn)行包覆是必要的？鋰電池電極由各種類型的粉末制備合成，對(duì)粉末材料表面進(jìn)行包覆已經(jīng)成為提高電池性能的有效策略。尤其在固態(tài)電池中，固體電解質(zhì)顆粒(SSA)和電極組合之間的界面兼容性問題仍然存在，通過界...